win7旗艦版無法進入BIOS怎么解決
通常系統(tǒng)故障或者需要某些設置時,我們可以在BIOS中進行,但是一些Win7用戶安裝了Win7旗艦版之后,發(fā)現(xiàn)進入不了bios界面,這個問題該怎么解決呢?下面小編就為大家分析一下這個問題的出現(xiàn)原因,及其解決方法。
解決步驟
1、最主要的是先要弄清楚主板的品牌是什么。
(1)在開機時按下特定的啟動鍵可以進入BIOS設置程序,不同類型的機器進入BIOS設置程序的啟動鍵不同,幾種常見的BIOS設置程序的進入方式。
(2)U盤啟動可以讓我們在不使用其他磁盤介質(zhì)的情況下,讓U盤進行臨時啟動,不同品牌的電腦主板BIOS啟動的快捷方法也不同,幾種不同品牌常用啟動熱鍵
2、內(nèi)存檢測是電腦啟動的必須過程。
如果在BIOS設置中沒有把“Quick Power On Self Test”項設置成“Enable”,這樣內(nèi)存會自檢3次,所以要將這個選項設置為“Disable”,然后按F10保存退出即可。
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1.CMOS battery failed
中文:CMOS電池失效。
解釋:這說明CMOS電池已經(jīng)快沒電了,只要更換新的電池即可。
2.CMOS check sum error-Defaults loaded
中文:CMOS執(zhí)行全部檢查時發(fā)現(xiàn)錯誤,要載入系統(tǒng)預設值。
解釋:一般來說出現(xiàn)這句話都是說電池快沒電了,可以先換個電池試試,如果問題還是沒有解決,那么說明CMOS RAM可能有問題,如果沒過一年就到經(jīng)銷商處換一塊主板,過了一年就讓經(jīng)銷商送回生產(chǎn)廠家修一下吧!
3.Press ESC to skip memory test
中文:正在進行內(nèi)存檢查,可按ESC鍵跳過。
解釋:這是因為在CMOS內(nèi)沒有設定跳過存儲器的第二、三、四次測試,開機就會執(zhí)行四次內(nèi)存測試,當然你也可以按ESC鍵結(jié)束內(nèi)存檢查,不過每次都要這樣太麻煩了,你可以進入COMS設置后選擇BIOS FEATURS SETUP,將其中的Quick Power On Self Test設為Enabled,儲存后重新啟動即可。
4.Keyboard error or no keyboard present
中文:鍵盤錯誤或者未接鍵盤。
解釋:檢查一下鍵盤的連線是否松動或者損壞。
5.Hard disk install failure
中文:硬盤安裝失敗。
解釋:這是因為硬盤的電源線或數(shù)據(jù)線可能未接好或者硬盤跳線設置不當。你可以檢查一下硬盤的各根連線是否插好,看看同一根數(shù)據(jù)線上的兩個硬盤的跳線的設置是否一樣,如果一樣,只要將兩個硬盤的跳線設置的不一樣即可(一個設為Master,另一個設為Slave)。
6.Secondary slave hard fail
中文:檢測從盤失敗
解釋:可能是CMOS設置不當,比如說沒有從盤但在CMOS里設為有從盤,那么就會出現(xiàn)錯誤,這時可以進入COMS設置選擇IDE HDD AUTO DETECTION進行硬盤自動偵測。也可能是硬盤的電源線、數(shù)據(jù)線可能未接好或者硬盤跳線設置不當,解決方法參照第5條。
7.Floppy Disk(s) fail或Floppy Disk(s) fail(80)或Floppy Disk(s) fail(40)
中文:無法驅(qū)動軟盤驅(qū)動器。
解釋:系統(tǒng)提示找不到軟驅(qū),看看軟驅(qū)的電源線和數(shù)據(jù)線有沒有松動或者是接錯,或者是把軟驅(qū)放到另一臺機子上試一試,如果這些都不行,那么只好再買一個了,好在軟驅(qū)還不貴。
8.Hard disk(s) diagnosis fail
中文:執(zhí)行硬盤診斷時發(fā)生錯誤。
解釋:出現(xiàn)這個問題一般就是說硬盤本身出現(xiàn)故障了,你可以把硬盤放到另一臺機子上試一試,如果問題還是沒有解決,只能去修一下了。
9.Memory test fail
中文:內(nèi)存檢測失敗。
解釋:重新插拔一下內(nèi)存條,看看是否能解決,出現(xiàn)這種問題一般是因為內(nèi)存條互相不兼容,去換一條吧!
10.Override enable-Defaults loaded
中文:當前CMOS設定無法啟動系統(tǒng),載入BIOS中的預設值以便啟動系統(tǒng)。
解釋:一般是在COMS內(nèi)的設定出現(xiàn)錯誤,只要進入COMS設置選擇LOAD SETUP DEFAULTS載入系統(tǒng)原來的設定值然后重新啟動即可。